FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

• 描述Description：

采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，優(yōu)于同類儀器精度.特別是方塊電阻值較小的產品測量， 加準確.提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

Using the Vanderbilt measuring principle can improve the influence and error of external factors on measurement results,.

二.滿足標準standard：

硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及 設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

silicon resistivity measurements of international standards (ASTM F84) and national standard design and manufacture of the equipment is designed in accordance with GB/T 1551-2009 "Method of determination of silicon single crystal resistivity” GB/  four probe method".

三.適用范圍Applicable scope：

適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的 工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便；選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

:

廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等

It is widely used in:

Covering membrane;-radiation conductive film (shielding)-film material square resistance testing.

(.)

四.型號及技術參數(shù)Models and technical parameters

規(guī)格型model	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍Sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
測試電流范圍 Test current	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 Current accura	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.電阻精度Resistance	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率LCD:
7.測試方式test mode	普通單電測量general single electrical measurement
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.誤差errors	整機不確定性Machine uncertain errors≤4%（標準樣片結果 Standard Sample results）
10.選購功能choose to buy	選購軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標準電阻 ;;;.
11.測試探頭Test probe	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material:.

配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀電阻、電阻率、電導率測量

ROOKO瑞柯品牌-------專注于新材料測量與分析儀器解決方案  

----解決材料：導體、半導體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

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